线圈匝间绝缘耐压测试仪/层间短路测试仪

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	YG108R电子线圈圈数测量仪 YG-108R电子线圈圈数测量仪	产品简介 » 　　YG108R系列除了具有YG108系列仪器线圈测量功能外，还可方便测量线圈的电阻。测量精度高。不同线圈的形状、大小对仪器测量精度的影响较小。　　　从0～6万圈无须量程变换均可精确测量，从而提高使用方便性和增加仪器寿命。
	YG109上海沪光线圈圈数测量仪 YG-109上海沪光线圈圈数测量仪	YG109型线圈圈数测量仪主要针对高圈数、高精度的线圈而设计，例如互感器线圈。与YG108型线圈圈数测量仪比较，其主要特点是数据稳定。因而具有很高的分辩率。
	GUT-6001类比IC测试器 GUT-6001类比IC测试器	产地: 台湾厂商: 台湾固纬 GWinstek 特点： Windows and DOS 驱动轻巧省电、可用电池供电提供两种操作模式：(1)单机操作、(2)电脑连线操作 LCD 显示幕：两行 16 个数字元件处理相关参数均可设定，诸如烧录演算法强大的 HEX/ASCII 记忆与 fusemap、测试资料库以及全萤幕编辑支援档案格式：Binary Code, Intel HEX & 80/86 HEX
	GUT-6600掌上型数位IC测试器 GUT-6600掌上型数位IC测试器	产地: 台湾厂商: 台湾固纬 GWinstek 特点：简单易操作可测试：74/40/45/41/44 系列之数位 IC 轻巧省电、可用电池供电平均搜寻时间：0.8 秒 LCD 显示幕：1行 16 个数字测试 Pins 数：14 ~ 24 Pins
	GUT-6000A数位IC测试器 GUT-6000A数位IC测试器	特性： Loop 测试自动搜寻 IC 编号功能开机自我侦测诊断功能过载保护功能可量测之 IC 种类超过 1800 种 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS 4000 及 4500 系列 CMOS 最大可测 Pin 数 : 28 Pin
	ICT33C集成电路测试仪 ICT33C集成电路测试仪	器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判断其好坏。器件型号判别：当不知被测器件型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型。器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致、引脚排列一致的器件型号。内部RAM数据修改：ICT-33C可从键盘对自己内部RAM 中的数据进行随机修改。 EPROM、EEPROM器件读入：ICT-33C可将64K以内的EPROM、EEPROM器件内的数据进行读入并保存。 EPROM、EEPROM器件写入：ICT-33C可将内部RAM中的数据写入到64K以内的EPROM、EEPROM器件中，并自动校验。
	ICT33C集成电路测试仪 ICT33C集成电路测试仪	器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判断其好坏。器件型号判别：当不知被测器件型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型。器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致、引脚排列一致的器件型号。内部RAM数据修改：ICT-33C可从键盘对自己内部RAM 中的数据进行随机修改。 EPROM、EEPROM器件读入：ICT-33C可将64K以内的EPROM、EEPROM器件内的数据进行读入并保存。 EPROM、EEPROM器件写入：ICT-33C可将内部RAM中的数据写入到64K以内的EPROM、EEPROM器件中，并自动校验。